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测厚仪 PW-TCK-T02

用途PW-TCK-T02测厚仪采用机械接触式测量方式,整机设计严格符合标准要求,专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片、纸张等各种材料的厚度精确测量。 技术指标指标参数量程0~2mm(标配);0~6mm、0~12mm(选配)分辨率0.1um重复性0.3um测试速度1~25 次/min测量压力17.51 KPa(薄膜);501 KPa(纸张)接触面积50 mm2(薄膜);200 mm

图片描述

用途

PW-TCK-T02测厚仪采用机械接触式测量方式,整机设计严格符合标准要求,专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片、纸张等各种材料的厚度精确测量。 

技术指标

指标参数
量程0~2mm(标配);0~6mm、0~12mm(选配)
分辨率0.1um
重复性0.3um
测试速度1~25 次/min
测量压力17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)    注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
电源AC 220V 50Hz / AC 120V 60 Hz
外形尺寸320mm (L)×400 mm (W)×420 mm (H)
约净重33kg

 

测试原理

PW-TCK-T02 测厚仪采用机械接触式测量方式,将试样放置于测试平台上,通过传动装置落下测量头,在一定的测量压力和接触面积下,通过高精度传感器读取试样的厚度。

标准

GB/T 6672、GB/T  451.3、GB/T 6547、ASTM  D645、ASTM D374、ASTM D1777、T   APPI T411、ISO 4593、ISO  534、ISO 3034、DIN  53105、DIN  53353、JIS K6250、JIS  K6328、 JIS  K6783、JIS  Z1702、BS   3983、BS   4817、ASTM  D6988、ASTM  F2251、BS   2782-6、DIN

53370、ISO  9073-2、ISO  12625-3、ISO  5084、ASTM  D3652、GB/T  24218.2、FEFCO  No 3、EN  1942

基础应用

适用于测量塑薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等材料的厚度。

扩展应用(选配/定制)

5mm 和 10mm 量程的传感器可选 配;测试面积、测试压力和曲面测量头可定制。

产品特点

1、严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制;

2、采用高精度测厚传感器,有效保障测量数据的准确性和重复性;

3、测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差;

4、支持手动和自动两种模式,方便用户使用;

5、标配微型打印机,可实现实时历史数据打印功能;

6、标配标准量块,方便用户标定传感器,更好地保障测量数据的准确性;

7、关键元器件选用世界知名品牌进口件,保证系统的精度和稳定性;

8、进口高速高精度采样芯片,保证测试数据的实时性和准确性;

9、7 寸高清彩色液晶屏,方便用户控制和展示实时数据及曲线;

10、支持历史数据可进行快速查看及报告打印。

产品配置 

标准配置:主机、内嵌软件、微型打印机、标准量块一件

选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码


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