PW-OU02光学推拉力机
设备参数：
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金球推力测试 |
模块标配,BS250G量程0-250G，综合测试精度≤0.1%;(传感器精度0.015%) |
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晶片及大推力测试 |
模块标配BS5KG(0-5KG),DS50KG(0-50KG),DS100KG (0-100KG)，DS200KG(0-200KG)综合测试精度≤0.10%传感器精度0.015% |
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拉力测试 |
测试模块WP100G（0-100G）,WP2.5KG (0-2,5KG),WP10kg(0-10kg),WP30KG,WP100KG综合测试精度≤0.25%;(可根据客户需要配置不同量程传感器)传感器精度0.015% |
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压力测试 |
PP5KG量程(0-5)KG,PP10KG量程（0-10）kg，PP100kg，量程（0-100）kg支持非标定制精度≤0.1% |
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XYZ工作行程 |
有效行XY100mm,Z80mm;分辩率±0.0003mm |
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控制操作 |
双摇杆控制机器四向运动，操作简单快捷摇杆操作分辨率0.2um分辨率全球领先。 |
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操作系统 |
电脑，windows7，Windows10操作系统，软件操作简单，所有测试数据及测试曲线可实时实保存与导出。SPC自带当前测试数据的最大值、最小值、平均值、CPK计算、及测试时间和测试人员测试自定义内容输出。开放兼容性的MES系统 ，可与工厂内网连接 ，实现测试数据随时上传。 |
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电源 |
220V±5% |
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设备尺寸 |
570 × 350 ×650mm |
设备亮点：
推拉力机还可用于半导体封装尺寸测量、LED封装测量、TO封装尺寸测量、IGBT功率模块封装测量、光电子元器件封装、大尺寸PCB、MINI面板、BGA，SMD等尺寸测量，晶片尺寸大小，金球尺寸大小测量， 线弧高度测量长宽高测量测试行程78*78*78mm精度：1um分辨率：1um。
技术指标：
量程选择:100g,200g,1kg,5kg,10kg,20kg，测试精度 0.1%:
量程选择:250g,1kg,5Kg,20kg,100kg，测试精度0.1%:
软件可测量:芯片推力测试、金线拉力测试，金球推力测试:
X轴:有效行程不小于 100mm，最大速度2毫米/秒，分辩率 0.1um;
y轴:有效行程 不小于100mm，最大速度2毫米/秒，分辩率0.1μm;
Z轴:有效行程 不小于80m，最大速度2毫米/秒，分辩率0.1pm;
运行最高速度:6mm
Z 轴测试最小定位高度:<1um;
平台夹具:平台可共享各种夹具，夹具可360度旋转:
配备显微镜，可观察平台的工件；
机器自带电脑windows操作系统，软件操作简单，可显示测试数据及力值分布曲线。
推拉力机应用于:半导体封装测试，芯片微电子测试，LED封装测试，摄像头模组测试，IGBT功率模块测试，光通讯器件测试SMD元器件测试，PCBA元件测试等等。
